魏道政（1929年7月-2022年11月26日），原籍浙江省诸暨县，是中国科学院计算技术研究所资深研究员、博士生导师，以及多个学术委员会和学术刊物的重要成员。他在中国科技大学、北京理工大学、北京计算机学院、山东大学、华中理工大学等高校兼任教授。

如今芯片产业飞速发展，大家格外重视集成电路制造工艺，却很容易忽略电路测试这关键一环。一块芯片能否稳定运行，可靠的测试手段必不可少。魏道政，正是国内计算机辅助测试、容错计算这片冷门领域的拓荒先驱。

复旦大学数学系毕业之后，他进入中科院体系深耕计算数学。早期承接大量国防与水利工程数值计算任务，拱坝应力测算、军工装备结构分析，都留下他扎实的研究成果。转入中科院计算所之后，时代浪潮推动国内自主计算机研制，硬件调试难题接踵而至。早年计算机插件故障排查全部依靠人工，耗时漫长，误差难以避免，严重制约整机研发进度。

上世纪七十年代，他率先尝试使用布尔差分法自动生成测试码，顺利完成013机插件自动化测试，国内第一次实现计算机硬件插件自动检测。长期实践积累之下，他提出闻名行业的主路径敏化法。这套算法整合当时国际主流测试理论，大幅降低运算开销，成为七十年代电路测试领域里程碑式成果，也让他斩获国家自然科学奖。

这项理论落地到757大型计算机研制工作，搭建插件测试码生成系统，极大缩短国产大型机调试周期。看到国内容错计算领域一片空白，他牵头组建学术研究组织，担任容错计算专委会首任主任，聚拢全国各地研究者，搭建长期稳定的学术交流平台，推动容错理念走进国内各大高校实验室。

科研之外，他扛起学科建设重担，出任中科院成都计算机应用研究所所长，统筹西南地区计算机科研布局。同时常年受聘多所高校授课，作为国内最早一批博士生导师，数十年培养数十名硕博人才，很多学生后来成长为集成电路测试、可信计算行业的中坚力量。

基础测试理论很难快速产生商业收益，长期属于少有人愿意深耕的赛道。很多科研人员追逐见效更快的热门方向，魏道政沉下心坚守数十年。他始终清醒，硬件想要稳定可靠，测试技术、容错设计不能缺位，基础研究容不得半点浮躁。

九十岁高龄，他依旧站上领奖台领取CCF终身成就奖。这份荣誉，是行业对他一生耕耘最好的认可。2022年，老先生与世长辞，一段属于中国计算机测试领域的开拓岁月缓缓落幕。

回看当下国产芯片自主攻坚的进程，我们更能读懂老一辈学者的远见。芯片想要实现国产化完整闭环，不止要攻克设计与制造，测试验证、故障容错等底层技术，同样不能受制于人。魏道政留下的学术道路，依旧指引后辈持续向前探索。

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