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XAFS能直接证明电催化活性位点吗?原位表征与实验方案详解

说明:本文华算科技主要介绍 XAFS 在电催化活性位点研究中的测量目标、工作态谱学变化、速率同步和互补实验。XAFS究竟

说明:本文华算科技主要介绍 XAFS 在电催化活性位点研究中的测量目标、工作态谱学变化、速率同步和互补实验。

XAFS究竟测到哪类位点信号?

XAFS先由元素吸收边选定金属中心。Fe、Co、Ni、Cu、Ir等元素受到X射线激发后,吸收系数随能量改变。XANES靠近吸收边,平均价态、未占据态密度和局域对称性会改变边位、白线和预边峰;EXAFS位于高能区,近邻原子的散射产生χ(k)振荡,配位数、键长、散射原子种类和无序度进入拟合参数。谱线描述金属中心周围的局域结构,电流密度和产物速率来自电化学测量。

图1. AEMFC 条件下原位 XAS 电池、参比样和电化学测试装置,用于连接工作态谱学采集与器件电催化环境。DOI:10.1038/s41467-025-57177-y

电催化活性位点是反应物吸附、电子转移和产物脱附发生的原子集合。XAFS给出元素选择性的平均局域结构,活性位点同时包含表面可达性、覆盖度、反应中间体和周转频率。Co-N、Fe-O或Ir-O配位说明对应元素周围存在这些近邻原子;活性位点确认依赖电位、产物、速率和结构变化的同步。缺少反应变量时,谱学描述仍停留在金属中心周围的局域结构。

X射线穿透电极膜后,谱线可能来自颗粒表面、亚表面和体相。催化电流来自电解液接触到的界面,而谱线包含大量暂时不参与反应的吸收原子。电极膜厚度、负载量、导电剂、离聚物和电解液路径会改变有效界面,谱线变化仍按吸收原子总贡献加权。同一元素在体相中的比例越高,表面中心在总谱线中的权重越低。

平均谱学信号怎样掩盖少量表面中心?

单原子样品也存在平均化吗?

单原子催化剂常用XAFS确认金属原子没有形成金属团簇。金属-金属散射峰减弱、金属-N或金属-S配位增强,支持原子分散状态。单原子样品仍可能同时包含多种配位构型、埋藏中心和边缘中心,反应物接触其中一部分。同一元素的不同局域构型会叠加在一条谱线上,拟合得到的配位数只是平均壳层参数。电解液通常接触边缘、孔口或薄层表面,埋藏中心对电流贡献有限。

图3. Ni@1T-MoS2 催化剂的显微结构、元素分布和原子级图像,反映低含量金属中心在载体中的空间分散状态。DOI:10.1038/s41467-020-17904-z

显微图像和元素分布能减少这种混叠。原子级图像给出金属中心的空间分散,XAFS给出近邻原子种类,两个数据指向同一类结构时,空间分布和配位环境同时确定。电位下的价态改变、关键中间体吸附、电流密度或选择性同步变化,共同决定结构存在和结构参与反应之间的距离。电极厚度和离子传输会继续改变该距离。

XAFS怎样记录电位下的结构变化?

拟合参数怎样靠近活性中心?

EXAFS拟合中的配位数、键长和Debye-Waller因子受振幅因子、k区间、R区间、模型路径和样品无序影响。配位数下降可能来自低配位表面中心,也可能来自静态无序增加;键长缩短可能来自价态升高,也可能来自配体种类改变。拟合表给出局域结构参数,参数来源与谱线质量、标准样和残差共同限定;相同R空间峰也可能来自不同散射路径,WT-EXAFS可辅助区分轻元素和重元素散射。

图5. Ni@1T-MoS2 的同步辐射 XAS、EXAFS 拟合和局域配位模型,展示吸收原子近邻结构的定量来源。DOI:10.1038/s41467-020-17904-z

同一材料在开路、电位阶跃、稳态电流和反向扫描中保留相同结构趋势,XAFS对工作态结构的描述会增强。金属-N、金属-S、金属-O和金属-M壳层的变化可区分原子分散中心、载体配位中心和纳米颗粒重构。谱线变化发生在电流起始之前或远离反应电位时,结构变化与速率贡献的同步性较弱。此时谱学变化可能属于预氧化、润湿或电极老化过程。

反应速率怎样和局域结构同步?

选择性怎样限定反应中心?

CO2还原、硝酸盐还原和氧还原常出现多产物竞争。活性位点同时对应电流大小和特定产物通道。同一XAFS结构模型匹配CO、甲酸、氨或过氧化氢选择性变化时,位点参与路径转为具体。吸附中间体红外、拉曼、在线质谱和同位素标记提供反应物种,XAFS提供金属中心结构,两类数据指向相同中心后,活性位点描述从结构存在走向反应参与。产物法拉第效率随电位改变时,XAFS谱线也在相同电位区间出现可复现变化。

图7. Zn-N-C 催化剂的 CO2 还原路径、自由能剖面和活性位模型,显示位点配位结构与产物选择性的配套变化。DOI:10.1038/s41467-019-10622-1

毒化实验和位点密度测量给出另一类约束。SCN-、CN-、CO、磷酸根或特定金属离子会选择性占据某些中心;毒化后XAFS中对应配位壳层变化,且目标产物速率同步下降,结构中心和反应通道之间的关系会收窄。位点密度、质量活性和TOF采用同一电极负载和相同归一化口径;相同口径还能区分膜厚、孔道传质和电解质润湿差异。高电流可能来自可接触面积扩大,并非单个中心活性提高。毒化前后的ECSA和产物分布也同步记录。

XAFS信号和反应信号怎样分工?

XAFS能给出的信息包括某元素的平均价态升高或降低、白线强度变化、第一壳层配位数和键长变化、金属-金属散射减弱或消失,以及WT-EXAFS峰位从金属散射转向轻元素散射。这类信息描述吸收原子周围的平均局域结构。电流来源、反应中间体寿命和产物通道来自电化学、振动光谱、在线产物分析和同位素实验。

图8. Zn-N-C 催化剂的 XANES 特征、理论谱和活性位结构模型,用于比较不同 Zn-Nx 构型的谱学响应。DOI:10.1038/s41467-019-10622-1

活性位点还包含反应条件。某一配位构型认作电催化中心时,电位、反应物、中间体、产物选择性、速率变化和对照样差异同步出现。结构模型、工作态谱线和反应变量三者同步变化时,活性位点描述形成闭合。缺少其中任一类数据,XAFS保留为局域结构描述,反应中心保留为待确认状态。平均谱学结果不自动扩展成唯一反应中心。

XAFS能回答“某一元素在工作态下以什么价态、什么近邻结构存在”,并追踪电位引起的可逆响应或重构。电催化活性位点还涉及界面可达、吸附参与、电子转移速率和产物通道。XAFS提供位点结构分析的主要谱学坐标,活性位点确认来自结构数据与反应数据的同步。平均局域结构保留为谱学描述,反应中心保留为界面反应描述。