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如何分析能带?基本理论、表征方法到调控策略!

说明:文章华算科技系统梳理了能带的形成、定义及三大核心公式,逐一展示紫外可见漫反射光谱、Mott-Schottky、XP

能带,逐一展示、Mott-Schottky、XPS价带谱、PL与DFT、COHP等实验-计算手段掺杂异质结能带结构晶体在自由空间中,电子能量与动量呈连续的平方关系,但在原子规则排列的晶体中,电子会受到周期性势场的影响,能量不再连续取值,而是被限制在一系列允许的能量区间内,这些区间就是 “能带”。

g-C3N4 的结构与能带工程调控策略。价带(Valence Band):

光激发或能量注入后,价带电子会跃迁至导带,同时在价带中留下带正电的 “空穴”(h⁺),空穴的移动是 p 型导电的核心机制。

能量高于价带的空能带(热力学平衡下),电子跃迁至此处后摆脱化学键束缚,可在晶体中自由移动,是导电与还原反应的核心载体。

DOI: 10.1016/j.cpc.2021.108033

价带顶(VBM)与导带底(CBM)之间的能量空白区,电子无法在此处存在,其宽度(单位:eV)是区分材料类型的关键。

禁带宽度半导体的禁带宽度(Eg,即 “吸收边”,单位:nm)满足:

光子能量(Eₕᵥ = hc/λ,h 为普朗克常数,c 为光速)需≥E₉,代入 h=6.626×10⁻³⁴ J・s、c=3×10⁸ m/s,换算单位后可得此简化公式。

通过测量材料的吸收边 λ,可直接计算 E例如:吸收边为 460 nm 的材料,其 Eg10.1002/cey2.596

2. 能带电位与 pH 的关系(能斯特方程)

参数说明:物理意义:例如:pH=0 时 CBM 为 – 1.33 V 的材料,在 pH=7 时 CBM 变为 – 1.74 V,还原能力显著增强。

3. 能带边电位的推导公式

,可测)后,可推导 CBM 与 VBM:

低温下 kT/q≈0.026 V,可近似认为 ECBM结合禁带宽度 Eg物理意义:与E即可间接获取完整的能带边电位数据,是实验中常用的定量方法。

如何分析能带?

要精准获取材料的能带参数(Eg、CBM、VBM)并理解其调控机制,需结合实验表征与理论计算,两者互为补充。

1. 实验表征:直接测量能带参数

紫外可见漫反射光谱(DRS)+ Tauc 图

核心用途:测定禁带宽度 Eg

原理简述:材料对不同波长光子的吸收强度与电子跃迁能量相关,只有光子能量≥E₉时,价带电子才能跃迁至导带,表现为吸收强度的显著上升(吸收边)。通过 DRS 获取吸收曲线后,结合 Tauc 关系可定量计算 Eg。

应用案例:纯 g-C₃N₄的 DRS 曲线显示吸收边约 460 nm,Tauc 图线性外推得Eg=2.77 eV;C/O 共掺杂后,吸收边红移至 550 nm,E₉降至 2.57 eV,直接证实掺杂对禁带宽度的调控效果。

理论计算可突破实验表征的局限,从电子轨道、层面解析能带形成与调控机制,其中密度泛函理论(DFT)是最成熟、应用最广泛的工具,常用软件包括 VASP、Gaussian、CASTEP 等。

能带结构计算

优化材料晶体结构(晶格常数、键长、层间距)后,求解薛定谔方程得到 E-k 关系(能带图)与态密度(DOS),、CBM/VBM 位置,以及价带 / 导带的电子轨道构成核心功能:直观展示电子的转移方向、聚集区域与转移量10.1002/cey2.596

反应能垒计算

结合能带参数,计算目标反应(如 O₂→H₂O₂、H₂O→・OH)的吉布斯自由能变化(ΔG)与反应能垒(Ea),、提升热力学可行性。

下图为Ni 单原子掺杂 g-C₃N₄的 DFT 计算,结果显示,O₂还原为 H₂O₂的反应能垒从纯相的 0.99 eV 降至 0.35 eV,原因是 Ni 3d 轨道与 O 2p 轨道强耦合,使 CBM 电位从 – 1.33 V 降至 – 1.53 V,增强了电子向 O₂的转移能力,降低了・OOH 中间态的形成能垒。

;同时,异质原子的电负性差异会。

金属掺杂:金属离子的 d 轨道可与主体的价带 / 导带轨道耦合,不仅缩小 Eg提升载流子分离效率10.1002/cey2.596

上图为非金属(C/O)共掺杂对 g-C3能带与光吸收的调控,通过前驱体改性实现 C/O 共掺杂,UV-Vis DRS 显示Eg将两种或多种半导体复合,通过 “能带对齐” 实现性能提升,常见类型包括:

两种半导体的导带 / 价带呈交错分布,电子与空穴分别转移至不同半导体的导带 / 价带,实现空间分离(抑制复合);

两种半导体的导带 / 价带部分重叠,仅低能量的电子 – 空穴对复合,保留高能量的电子(强还原)与空穴(强氧化),同时抑制复合;

半导体与金属(或金属碳化物)复合,金属的费米能级低于半导体的 CBM,电子从半导体转移至金属后被 “捕获”,无法回流(显著提升载流子分离效率)。

案例解析:N的 VBM能量相近,光激发后两者的低能量电子-空穴对复合,保留 g-C3的 CBM 与 Cd₀.₆Zn₀.₄S 的 VBM,通过能带对齐实现了性能提升。

形态与缺陷调控

表现为 Eg形态控制对 g-C3能带与反应路径的影响。10.1002/cey2.596

总结

对光催化、电子器件等领域而言,能带工程仍是未来材料开发的核心方向。通过更精准的分子设计、更精细的界面调控,有望实现能带参数的按需定制,推动更多高性能材料从实验室走向工业化应用。