在高端光学制造与强激光技术领域，波前测量精度直接决定了系统的最终性能。然而，在追求纳米级精度的道路上，工程师们长期面临热噪声导致测量数据漂移的困扰。浙江大学杨甬英教授团队携近二十年的技术积淀，正式推出100% 国产自研的 FIS4-HR-C 高分辨率波前传感器（制冷款） ，这不仅是一次硬件的迭代，更是对极端精度测量环境的“降维打击”。

FIS4-HR-C 采用了专业制冷款设计，基于随机编码混合光栅专利技术，实现了单路光自干涉。无需参考镜，彻底告别传统干涉仪对参考镜精度的依赖。拥有极高的抗振性能，在工业产线嘈杂环境中也能实现纳米级（≤2nm RMS）精度测量。适用于光束波前检测、自适应光学、平面面形测量、光学系统校准、光学窗口片检测、光学平面、球面面形测量、表面粗糙度检测。

配套研发的分析软件依托模块化架构打造简易一键操作交互界面，可实现多维度数据分析，实时输出 PV、RMS 数值，自动演算 PSF、OTF/MTF 与高阶 Zernike 像差系数，还能自定义圆、方形待测区域，完成局部粗糙度拉线测算，全分辨率 10Hz 高帧率实时成像，精准捕捉动态波形变化。

FIS4-HR-C高分辨率波前传感器（制冷款） 不仅是一个测量工具，更是中国高端光学制造打破进口依赖的信心之选。如果您正面临微纳级检测精度的挑战，苦于热漂移带来的数据不稳定，或是希望摆脱进口设备的高昂成本与长周期束缚，FIS4-HR-C将提供兼具实验室精度与工业级稳定性的最佳解决方案。