‍常见的电介质表征方法有传输/反射法、开放式同轴探针法、自由空间法和谐振法。这些方法都需要使用矢量网络分析仪（VNA），或者选择简单地使用网络分析仪（NA）用于开放式同轴探针和谐振方法。随着NA仪器的使用，需要高质量的计量级互连，如同轴VNA测试电缆和潜在的高速终端发射连接器，如果电介质是平面或电路板层压板。今天我们来了解谐振法。

测试电介质有各种各样的谐振方法，基本原理是，具有给定被测介电材料（MUT）的样品或结构的介电特性与具有样品的介电特征和设计一致的谐振响应。

常见的谐振方法包括分柱谐振器、腔谐振器、法布里-珀罗谐振器和凹状谐振器。还有在衬底上或涂层的情况下制造谐振平面结构的技术，这些技术可用于提取电介质样品的相对介电常数和磁导率。然而，谐振方法可能不太适合测量电介质的损耗角正切，因为与导电结构中的损耗和其他RF损耗相比，可能很难从电介质中提取损耗。

谐振方法通常包括两端口探针方法，其中可以测量空腔或其他谐振结构。当插入介电样品时，谐振结构的谐振响应发生变化，并且可以从中提取介电响应。一些谐振方法能够测量非常小的样品，但通常也被限制在非常窄的频率范围内。因此不同的谐振方法可以在几个特定频率下测量样品的介电特性，但这些方法无法深入了解样品的宽带介电性能。